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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學(xué)的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展EDS掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)技術(shù),具有多種功能,并在多個領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。以下是對其功能和應(yīng)用的詳細介紹:一、功能微觀形貌觀察:SEM部分利用高能電子束掃描樣品表面,通過電子與樣品原子相互作用所產(chǎn)生的各種信號(如二次電子、背散射電子等)來揭示樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)信息。這些信號會被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換成圖像,從而得到樣品的高分辨率圖像。元素成分分析:EDS部分通過檢測樣品在電子束轟擊下產(chǎn)生的特征X射線來進行元素分析。不同元素具有不同的特征...
查看詳情在微觀科學(xué)研究領(lǐng)域,深入探索物質(zhì)表面的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)至關(guān)重要。AFM原子力顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具,能夠在納米尺度下對樣品表面進行精確測量和成像,為科研人員展現(xiàn)出微觀世界的精細細節(jié),堪稱微觀世界的“納米級測繪師”。AFM原子力顯微鏡的工作原理基于原子間的相互作用力。它通過一個微小的探針,與樣品表面進行極近距離的接觸或輕微的掃描。當(dāng)探針靠近樣品表面時,探針原子與樣品表面原子之間會產(chǎn)生微弱的相互作用力,如范德華力、靜電力等。這種力的變化會導(dǎo)致探針發(fā)生微小的形變或位移,通過...
查看詳情在科學(xué)研究與工業(yè)檢測的廣袤領(lǐng)域中,SEM掃描電鏡宛如一位神秘的魔法師,為我們揭開微觀世界隱藏的奧秘。SEM掃描電鏡,全稱掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope),它利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面,通過與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號,來構(gòu)建樣品表面的高分辨率圖像。這一成像原理,讓它能夠呈現(xiàn)出傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡難以企及的微觀細節(jié)。SEM掃描電鏡的分辨率高,通常能達到納米級別。這意味著它可以清晰地觀察到材料表面極其微小的結(jié)構(gòu)和形貌特征。比...
查看詳情在科學(xué)研究的廣袤領(lǐng)域中,對于微觀世界的深入探索一直是眾多科學(xué)家不懈追求的目標(biāo)。而超快電鏡,作為現(xiàn)代科學(xué)儀器中的一顆璀璨明星,正以方式助力科研人員揭開微觀世界瞬息萬變的奧秘。超快電鏡,全稱為超快電子顯微鏡,它結(jié)合了電子顯微鏡高分辨率成像的能力與超快激光技術(shù),實現(xiàn)了對微觀結(jié)構(gòu)和動力學(xué)過程的超高速觀測。傳統(tǒng)電鏡雖然能夠提供納米級別的空間分辨率,但在捕捉快速變化的現(xiàn)象時卻顯得力不從心。超快電鏡的誕生,則突破了這一限制,讓科學(xué)家們得以窺探到那些在極短時間尺度內(nèi)發(fā)生的微觀事件。超快電鏡的...
查看詳情在微觀世界的研究領(lǐng)域,深入了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和成分是揭示材料性能、生物分子機制等奧秘的關(guān)鍵。高通量透射電鏡作為一種先進的微觀分析儀器,為科研人員開啟了一扇高效探索微觀世界的大門。高通量透射電鏡的工作原理基于電子與物質(zhì)的相互作用。與傳統(tǒng)透射電鏡類似,它通過電子槍發(fā)射出高能電子束,電子束穿透極薄的樣品時,與樣品中的原子發(fā)生相互作用,產(chǎn)生散射、衍射等現(xiàn)象。不同的原子結(jié)構(gòu)和成分會導(dǎo)致電子的散射和衍射情況不同,透過樣品的電子束攜帶了這些信息,經(jīng)過電磁透鏡的聚焦和放大,最終在熒光屏或探測...
查看詳情真空轉(zhuǎn)移TEM樣品桿是一種專門設(shè)計用于在真空環(huán)境下轉(zhuǎn)移樣品至透射電子顯微鏡中的工具。工作原理主要包括以下幾個步驟:創(chuàng)建真空環(huán)境:通過真空泵等設(shè)備,將實驗環(huán)境建立為低壓或真空狀態(tài)。打開通道:通過控制閥門,打開樣品容器內(nèi)部與外界的連接通道。啟動真空泵:真空泵開始抽氣,使樣品容器內(nèi)部形成負壓,即真空狀態(tài)。轉(zhuǎn)移樣品:在真空狀態(tài)下,通過真空轉(zhuǎn)移TEM樣品桿將樣品從容器轉(zhuǎn)移到透射電子顯微鏡中。關(guān)閉通道:轉(zhuǎn)移完成后,關(guān)閉樣品容器與外界的通道,恢復(fù)正常壓力狀態(tài)。真空轉(zhuǎn)移TEM樣品桿設(shè)計特點:...
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