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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展在科學(xué)研究和工業(yè)檢測等眾多領(lǐng)域,對材料微觀結(jié)構(gòu)和元素組成的分析至關(guān)重要。便攜式能量色散譜儀(EDS)作為一種先進(jìn)的分析工具,正發(fā)揮著越來越重要的作用。便攜式EDS的工作原理基于電子與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的特征X射線。當(dāng)高能電子束轟擊樣品表面時,樣品中的原子會被激發(fā),發(fā)射出具有特定能量的X射線。便攜式EDS通過探測器收集這些X射線,并根據(jù)其能量來確定元素的種類和含量。這種非破壞性的分析方法,能夠快速、準(zhǔn)確地提供樣品的元素信息。與傳統(tǒng)的大型EDS設(shè)備相比,便攜式EDS最大的優(yōu)勢在于其...
查看詳情在科學(xué)研究、工業(yè)檢測以及電子產(chǎn)品制造的各個領(lǐng)域,微觀世界的觀察和分析至關(guān)重要。而傳統(tǒng)的掃描電鏡(SEM)由于體積龐大、設(shè)備昂貴以及需要復(fù)雜操作,往往只能在實驗室中進(jìn)行。今天,隨著科技的不斷進(jìn)步,便攜式掃描電鏡應(yīng)運而生,為各類行業(yè)帶來了的便利。便攜式掃描電鏡,以其精確的成像能力和輕便的設(shè)計,打破了傳統(tǒng)掃描電鏡對空間和位置的局限。它集成了高分辨率掃描技術(shù)和高效的數(shù)字化分析系統(tǒng),使用戶能夠在現(xiàn)場快速獲取微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。無論是在復(fù)雜的生產(chǎn)車間、野外勘探,還是在緊急的科學(xué)研究任務(wù)中...
查看詳情在現(xiàn)代科研和工業(yè)領(lǐng)域,精準(zhǔn)的分析和測試手段是推動技術(shù)進(jìn)步和質(zhì)量保障的關(guān)鍵。X射線能譜儀作為一款集成高精度分析技術(shù)的設(shè)備,已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、電子產(chǎn)業(yè)等多個領(lǐng)域,為各行業(yè)提供了強有力的技術(shù)支持。X射線能譜儀是一種通過X射線照射樣品,并分析樣品產(chǎn)生的能譜信號來確定物質(zhì)成分和結(jié)構(gòu)的分析儀器。它利用X射線與物質(zhì)相互作用后產(chǎn)生的特征X射線,能夠高精度地分析物質(zhì)的元素組成、濃度以及分布,廣泛應(yīng)用于金屬、礦物、化學(xué)品、半導(dǎo)體等材料的質(zhì)量控制和故障診斷。X射線能譜儀采用先進(jìn)的探測...
查看詳情EDS掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)技術(shù),具有多種功能,并在多個領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。以下是對其功能和應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、功能微觀形貌觀察:SEM部分利用高能電子束掃描樣品表面,通過電子與樣品原子相互作用所產(chǎn)生的各種信號(如二次電子、背散射電子等)來揭示樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)信息。這些信號會被探測器捕捉并轉(zhuǎn)換成圖像,從而得到樣品的高分辨率圖像。元素成分分析:EDS部分通過檢測樣品在電子束轟擊下產(chǎn)生的特征X射線來進(jìn)行元素分析。不同元素具有不同的特征...
查看詳情在微觀科學(xué)研究領(lǐng)域,深入探索物質(zhì)表面的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)至關(guān)重要。AFM原子力顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具,能夠在納米尺度下對樣品表面進(jìn)行精確測量和成像,為科研人員展現(xiàn)出微觀世界的精細(xì)細(xì)節(jié),堪稱微觀世界的“納米級測繪師”。AFM原子力顯微鏡的工作原理基于原子間的相互作用力。它通過一個微小的探針,與樣品表面進(jìn)行極近距離的接觸或輕微的掃描。當(dāng)探針靠近樣品表面時,探針原子與樣品表面原子之間會產(chǎn)生微弱的相互作用力,如范德華力、靜電力等。這種力的變化會導(dǎo)致探針發(fā)生微小的形變或位移,通過...
查看詳情在科學(xué)研究與工業(yè)檢測的廣袤領(lǐng)域中,SEM掃描電鏡宛如一位神秘的魔法師,為我們揭開微觀世界隱藏的奧秘。SEM掃描電鏡,全稱掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope),它利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面,通過與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號,來構(gòu)建樣品表面的高分辨率圖像。這一成像原理,讓它能夠呈現(xiàn)出傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡難以企及的微觀細(xì)節(jié)。SEM掃描電鏡的分辨率高,通常能達(dá)到納米級別。這意味著它可以清晰地觀察到材料表面極其微小的結(jié)構(gòu)和形貌特征。比...
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