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掃描電鏡是失效機(jī)理分析的重要手段，二次電子成像可以直接觀察斷裂類型和斷裂源。從(準(zhǔn))解理斷裂、韌窩斷裂以及其他顯微斷口特征形貌可以推斷失效是否來源于晶界缺陷、夾雜物以及氫致裂紋(HIC)，所以，掃描電鏡在高質(zhì)量等級(jí)品種鋼開發(fā)的過程中扮演著重要的角色。掃描電鏡樣品臺(tái)為圓形，靠馬達(dá)帶動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)X、Y、Z向的步進(jìn)式移動(dòng)以及轉(zhuǎn)動(dòng)。失效分析試樣的種類繁多，形狀各異，單純依靠導(dǎo)電雙面膠將試樣固定在樣品臺(tái)上，固定不牢，因?yàn)閷?dǎo)電雙面膠與試樣和樣品臺(tái)的粘合度不高，在樣品臺(tái)移動(dòng)過程中，樣品易脫落...

AltaScientific,Inc.hassignedexclusivedistributionagreementwithEuclidTechLabs2020年8月9日，中國香港——奧達(dá)科學(xué)有限公司（AltaScientific，Inc.，以下簡(jiǎn)稱ALTA）今天正式宣布與EuclidTechLabs（以下簡(jiǎn)稱Euclid）簽署經(jīng)銷協(xié)議，成為Euclid大中華區(qū)授權(quán)經(jīng)銷商。Euclid是創(chuàng)新型動(dòng)態(tài)（DEM）和超快電子顯微鏡（UEM）解決方案的提供商。其產(chǎn)品主要應(yīng)用于物理學(xué)，材...

電學(xué)樣品臺(tái)可用于材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察，各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析，以及各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析。離子濺射鍍膜是電學(xué)樣品臺(tái)常用的一個(gè)方法，在部分真空的濺射室中輝光放電，產(chǎn)生正的氣體離子；在陰極（靶）和陽極（試樣）間電壓的加速作用下，荷正電的離子轟擊陰極表面，使陰極表面材料原子化；形成的中性原子，從各個(gè)方向?yàn)R出，射落到試樣的表面，于是在試樣表面上形成一層均勻的薄膜。對(duì)于任何待鍍材料，只要能做成靶材，就可實(shí)現(xiàn)濺射，濺射方法有四種：直...