Femto TEM B超快透射電子顯微鏡解決方案采用飛秒級激光激發(fā)陰極電子束，并同時采用飛秒激光泵浦樣品，實現(xiàn)對樣品的超快表征。
該解決方案結合了飛秒激光的飛秒時間分辨率和透射電子顯微鏡的原子空間分辨率，可進行超高時間和空間分辨的成像、微區(qū)衍射以及能譜分析，可廣泛應用于超高時空分辨的物質原子結構演變、化學價態(tài)變化、電荷轉移、電-聲子相互作用、電-光子相互作用等動力學研究。
 

　　超快TEM解決方案應用：
 

　　•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡
 

　　–     CryoEM
 

　　–     LDA研究，生物大分子
 

　　–     超敏感分子的特性研究
 

　　–     蛋白質
 

　　–     納米工程結構分析
 

　　•      室溫Low-damage顯微鏡
 

　　–     提高有機材料表征時的總電子劑量
 

　　–     直流束流的晶體衰落值增加2倍(紅色箭頭)
 

　　•      電子全息技術
 

　　•      電子三維重構
 

　　•      時間分辨顯微鏡
 

　　–     泵浦探針頻閃顯微鏡(射頻泵浦，束流探頭)
 

　　–     在射頻激勵下確定MEM器件中的電場特性
 

　　1.    磁性和等離子設備的自旋電子學
 

　　2.    NEMS / MEMS高頻設備
 

　　超快TEM解決方案技術參數(shù)：
 

　　•能量范圍：100 keV至300 keV
 

　　• 電子束頻閃率：200kHz~25MHz(光激發(fā))
 

　　• 電子脈沖長度：300fs(光激發(fā))